Procedimientos de muestreo para inspección por atributos :  parte 1: planes de muestreo determinados por el nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote a lote / 
 Sampling procedures for inspection by atributes. 
Instituto Colombiano de Normas Técnicas y Certificación (ICONTEC). 
 - Bogotá :  ICONTEC,  c2009. 
 - 4 volúmenes :  ilustraciones, cuad., diagr. ;  30 cm. 
<br/><br/>Part. 0.Introduction to the ISO 2859: introducción al sistema de muestreo por atributos attribute sampling system -- Part. 1. Planes de muestreo determinados por el nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote a lote -- Part.2. Planes de muestreo determinados por la calidad límite (CL) para la inspección de un lote aislado Sampling plans indixed by limiting qualilty (LQ) for isolated lot inspection -- Part. 3. procedimientos de muestreo intermitentes : Sampling procedures for inspection by atributes 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Muestreo de aceptación (Control de calidad)--Colombia--Normas técnicas<br/>Muestreo (estadística)--Colombia--Normas técnicas
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>519.52  / I597p